
當(dāng)前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 日化檢測儀器 > 顆粒肥料檢測儀 > ACT單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測定儀

簡要描述:單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測定儀,專為各類晶體材料的質(zhì)量檢測而研發(fā)。該儀器采用高精度傳感器與PLC控制系統(tǒng),可精確測定金剛石、鉆石、晶體顆粒等材料的抗壓強(qiáng)度。配備7英寸觸摸屏,支持測試速度無級調(diào)節(jié),測量精度達(dá)±0.500%,并可根據(jù)客戶需求定制專用夾具,是晶體材料研究、生產(chǎn)和質(zhì)檢領(lǐng)域的理想測試設(shè)備。
產(chǎn)品型號:ACT
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
更新時間:2025-10-28
訪 問 量:19相關(guān)文章
RELATED ARTICLES詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特點(diǎn)
精準(zhǔn)測控系統(tǒng):采用PLC工業(yè)級控制器,確保單顆粒晶體測試過程穩(wěn)定可靠,測量精度高達(dá)±0.500%
智能化操作界面:7英寸HMI觸摸屏,實(shí)時顯示測試曲線與數(shù)據(jù),操作簡便直觀
高效測試流程:測試速度1-500mm/min無級可調(diào),測量頭自動回位,提升檢測效率
專業(yè)擴(kuò)展能力:可定制多種專用夾具,滿足不同晶體材料的特殊測試需求
完善數(shù)據(jù)輸出:內(nèi)置微型打印機(jī),可直接輸出單顆??箟簭?qiáng)度測試報告
單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測定儀依據(jù)國際通用測試標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計,將單顆晶體樣品置于測試盤上,啟動后系統(tǒng)勻速施加壓力,精確記錄下壓過程中的峰值力值。該峰值即為樣品的抗壓強(qiáng)度,整個測量過程自動化完成,有效確保單顆粒晶體抗壓強(qiáng)度測定儀測試結(jié)果的準(zhǔn)確性與重復(fù)性,為晶體材料研究提供可靠數(shù)據(jù)支持。
| 參數(shù)項(xiàng)目 | 技術(shù)規(guī)格 |
|---|---|
| 測試范圍 | 0-100N(標(biāo)準(zhǔn)),可選50/200/300/500N |
| 測量精度 | ±0.500% |
| 測試速度 | 1-500mm/min(無級變速) |
| 速度精度 | ±1% |
| 操作界面 | 7英寸HMI觸摸屏 |
| 數(shù)據(jù)輸出 | 微型打印機(jī) |
| 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | GB/T、ISO、ASTM等國際通用材料測試標(biāo)準(zhǔn) |
該儀器廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域:
超硬材料:金剛石、鉆石等超硬晶體材料的強(qiáng)度測試與質(zhì)量分級
化工晶體:催化劑晶體、化肥晶體等化工材料的強(qiáng)度性能檢測
醫(yī)藥領(lǐng)域:藥品晶體、醫(yī)藥中間體的質(zhì)量檢驗(yàn)與研究
科研機(jī)構(gòu):高等院校、科研院所的材料性能研究與開發(fā)
質(zhì)檢單位:質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)的晶體材料質(zhì)量評估
濟(jì)南西奧機(jī)電憑借多年材料測試儀器研發(fā)經(jīng)驗(yàn),為客戶提供專業(yè)的定制服務(wù):
專用夾具定制:針對特殊形狀、尺寸的晶體樣品,設(shè)計制造專用測試夾具
測試方案開發(fā):根據(jù)客戶具體測試需求,開發(fā)個性化的測試程序與方法
技術(shù)培訓(xùn)支持:提供完善的操作培訓(xùn)與終身技術(shù)服務(wù)支持
應(yīng)用方法優(yōu)化:協(xié)助客戶建立標(biāo)準(zhǔn)化的測試流程與質(zhì)量評估體系
通過精準(zhǔn)的測試性能與專業(yè)的定制服務(wù),本儀器已成為晶體材料研究和質(zhì)量控制的可靠工具,為產(chǎn)品研發(fā)、工藝優(yōu)化提供重要的數(shù)據(jù)支持,助力企業(yè)提升產(chǎn)品質(zhì)量與市場競爭力。
產(chǎn)品咨詢
公司地址:濟(jì)南市工業(yè)北路5577號
公司郵箱:sales@celtec.cn
公司傳真:0531-88977152銷售熱線
在線咨詢

微信公眾號

微信二維碼